Medidor de contacto CM1030 Low-E – 100% fabricado en Estados Unidos

Descripción
El CM1030 detecta cualquier superficie conductora, incluyendo revestimientos Low-E en hojas individuales de vidrio. Simplemente presione el medidor contra una pieza de vidrio para determinar si la superficie que está tocando contiene recubrimientos conductivos (bajo-E). El probador utiliza cuatro (4) almohadillas antiarañazos en su parte posterior que evitan daños a los revestimientos y proporcionan una prueba rápida y fácil, ideal para el entorno de fabricación. Nota: el CM1030 funciona en paneles individuales de vidrio solo poniendo en contacto directamente con la superficie de prueba. Dado que los recubrimientos Low-E están orientados en el panel interior de las unidades IG, el CM1030 no es adecuado para su uso en IG fabricados. El CM1030 está diseñado específicamente para el entorno de fabricación. Debido a la simplicidad del medidor, el personal de producción necesitará un entrenamiento mínimo para entender la indicación del medidor. El CM1030 es ideal para identificar la orientación del vidrio Low-E ya que se está colocando en las arandelas o ensamblando en ensamblajes de vidrio aislante.
Características
Diseño ultra sensible que detecta todos los revestimientos conductivos, incluyendo capas duras o capas blandas Identifica Low E en la producción fácilmente y evita errores costosos Almohadillas antiarañazos para evitar daños a los revestimientos Adecuado solo para paneles individuales de cristal y diseñado para un entorno de fabricación. Te permite probar capas duras o suaves de capa baja en E.
Peso
9.00 Pounds
Fabricante es ‎EDTM
Destacados
Diseño ultra sensible que detecta todos los revestimientos conductivos, incluyendo capas duras o capas blandas, Identifica Low E en la producción fácilmente y evita errores costosos, Almohadillas antiarañazos para evitar daños a los revestimientos, Adecuado solo para paneles individuales de cristal y diseñado para un entorno de fabricación., Te permite probar capas duras o suaves de capa baja en E.